设备名称

X射线衍射仪

设备图片

型号

D8ADVANCE

制造商

德国Bruker

购置日期

2014年

简介

X射线衍射术分析研究的范围非常广泛，包括材料学、物理学、化学、地矿、金属、聚合物、催化剂、塑料、药物、生物、薄膜镀层、陶瓷和半导体、纳米材料、无机非金属、有机高分子、复合材料等。

D8 Advance能够提供粉末、块状、条带样品的测试多晶样品的常规物相分析和半定量分析，进行晶胞参数的测定、修正，未知多晶样品的X射线衍射指标化，晶粒尺寸和结晶度测定等。

用途

主要有：

·物相分析(物相鉴定与定量相分析)与表面相层序分析

·结晶学(衍射谱的指标化，点阵参数测定，S.G测定，粉末衍射图谱拟合修正晶体结构及晶体结构测定)。

·嵌镶晶粒尺寸及点阵畸变测定，结晶度测定，有序度测定…。

·织构与现代织构定量ODF分析,残余应力测定。

·薄膜的厚度、密度、表面与界面粗糙度与层序分析。

·高分辨衍射测定单晶外延膜结构特征。