“分析测试技术论坛”—第1讲:仪器应用介绍

作者: 时间:2018-06-20 点击数:

 

讲座一

讲座名称:JEM-F200 场发射透射电镜技术及应用

讲座时间:2018627日(星期三)16:00

讲座地点 综合楼十阶

讲座人:杨晓辉

讲座内容

从透射电镜的构造、原理及观察构成介绍开始,帮助用户了解TEM功能。重点通过具体案例介绍透射电镜样品的制备,拍摄图片的选取及处理软件的应用。

讲座二

讲座名称:GLEEBLE3800简介及应用

讲座时间:2018627日(星期三)17:00

讲座地点综合楼十阶

讲座人:侯洁

讲座内容

介绍我校分析测试中心gleeble3800热模拟试验机的基本构成、工作原理、性能参数及应用领域,并对常用应用举例分析。 

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