为了促进微观表征技术在我校材料、冶金、机械、力学等学科领域的交流、发展和应用， 9月20日下午，我校分析测试中心与赛默飞世尔科技（中国）有限公司在图书馆学术报告厅联合举办了“金属材料微观表征”研讨会，100多名校内外师生参加了本次会议。

会中，上海大学分析测试中心高级实验师梁雪老师分享了基于聚焦离子束（FIB）多设备联用技术及其在材料领域的应用案例。赛默飞世尔科技（中国）有限公司技术专家孙秀荣、韩伟和杨光分别介绍了扫描电子显微镜(SEM)在金属材料领域的应用案例、最新双束技术及应用以及透射电子显微镜(TEM)最新技术进展。整个报告理论与实践相结合，深入浅出，通俗易懂，使全体参会人员对电子显微镜技术及其在微观结构表征中的应用有了更清晰、更全面的认识。

经过几年的建设，学校分析测试中心已拥有多台（套）扫描电子显微镜、扫描探针显微镜、透射电子显微镜等材料微观表征设备，在我校科学研究、人才培养、学科建设、社会服务中发挥了重要支撑作用。此次研讨会进一步增进了校企双方的了解，也为双方围绕材料微观表征技术在科技创新、技术培训、学术交流等方面奠定了良好的合作基础。